专利质量指标中“被引次数”的深度剖析
【出 处】:《
情报科学
》
CSSCI
2014年第32卷第1期 68-73页,共6页
【作 者】:
万小丽
【摘 要】
深度剖析专利质量指标中“被引次数”的原理、效力、缺陷和修正方法有利于研究者和使用者更恰当地予以应用。该指标虽然已被广泛应用,但仍然面临时间截面、引证膨胀、技术领域差异、被引质量等问题;现有的修正方法在一定程度上可以起到缓解作用,但还有较大的改进空间。
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